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Fluorescencia de Rayos X (XRF) y su Aplicación en el Análisis de Minerales

La fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica clave en minería, utilizada para la identificación y cuantificación de elementos en muestras minerales de manera rápida y no destructiva. Este método se basa en la excitación de átomos mediante radiación de alta energía, lo que genera una emisión de fotones con características únicas para cada elemento.

En este artículo exploramos los fundamentos físicos de la técnica, la diferencia entre los sistemas EDXRF y WDXRF, y los desafíos en matrices geológicas complejas, como los efectos de matriz, la granulometría de la muestra y las interferencias espectrales. Además, abordamos el impacto de los parámetros operativos en la sensibilidad del análisis y las estrategias para mejorar la precisión.

También destacamos el papel de la XRF en la certificación de concentrados minerales, su comparación con otras técnicas como el ICP-OES, y las limitaciones para la detección de elementos traza. Finalmente, se presentan estrategias de corrección y calibración para mejorar la exactitud de los resultados.

Este contenido es esencial para profesionales de laboratorio, geólogos y especialistas en control de calidad en minería, brindando un enfoque técnico detallado sobre la aplicación y optimización de la XRF en la industria minera.